晶圓檢測機

晶圓檢測 Wafer inspection

 

光學檢測系統 Optical inspection system

光學量測系統 Optical measurement system

 

半導體晶圓光學檢測系統 Wafer Optical inspection system 能大幅提升晶圓品質與產能的重要關鍵之一,具有高效精準之瑕疵檢測量測技術,將可取代並減輕大量的人力檢測的負擔,提高檢測量測重複性及縮短檢測量測時間,並提升貴司產品品質及競爭力。

 

如需詳細規格功能介紹,請與我們聯絡或於『聯絡我們』留下貴司資料將會安排前往拜訪介紹,謝謝!

 

※歡迎與我們聯繫,我們很樂意了解您的需求,並為您客制化設計提供解決方案。

 

 

晶圓檢測|晶圓檢測機|晶圓檢測系統|Wafer inspection|Wafer inspection system-和星科技